新思科技近期推出了designWaRe工艺、电压和温度监控及传感子系统IP核，专为台积电的N3制程技术设计。该PVT监控和传感子系统IP核已纳入台积电的库和IP质量管理计划，旨在为客户提供具有竞争力的性能优势，适用于多种市场应用。使用台积电先进制程的系统级芯片开发者能够借助深度嵌入式PVT监控和传感子系统技术，实时评估生产过程中关键芯片参数，并在芯片生命周期的各个阶段进行动态条件的测量和分析。
基于当前先进制程技术、基础优化方案、遥测技术和分析方法，新思科技新加入的MooRtec所提供的芯片内传感技术是实现最高性能和可靠性的关键。该子系统中的IP核构成了新思科技芯片生命周期管理平台的核心部分。SLM流程首先将片内传感器和PVT监视器集成到芯片中，这些传感器和监视器提供的数据帮助更深入地理解芯片的性能和功耗，并使得SLM平台的分析引擎能够在半导体生命周期的每个阶段进行更细致的优化。
台积电设计架构管理事业部副总经理Suk Lee表示，台积电不断与生态系统合作伙伴携手，解决客户在功耗和性能方面的设计挑战，并利用台积电的先进技术为下一代芯片的创新提供设计解决方案。新思科技的designWaRe PVT监控IP核充分体现了双方持续合作的价值，并将继续为共同客户提供产品支持，帮助他们在基于台积电N3制程技术的设计中实现更优的功耗和性能。
designWaRe PVT子系统的创新模块化设计提供了一种高度可配置的PVT监视器结构，专为台积电N3制程技术量身定制，包括可实现高效热分析的分布式热传感器、用于防止热失控的可编程防灾跳闸传感器以及额外的热二极管，以确保在芯片断电时也能独立测量裸片温度。整个系统由第四代PVT控制器管理，便于访问独立嵌入式监视器和传感器的多实例数据。
新思科技硬件分析和测试事业部副总裁AMIT Sanghani指出，随着市场对设计复杂性和器件栅极密度的需求不断提高，PVT监控技术已成为先进制程节点芯片设计成功的关键。作为新思科技创新型芯片生命周期管理平台的一部分，designWaRe系列嵌入式PVT监视器和传感器套件将为开发者提供创新的片内传感技术和实时深度芯片监测，从而提升整个芯片生命周期的产品利用效率。
designWaRe PVT监控和传感子系统可根据特定行业应用进行定制，现已向早期客户开放集成。如需了解更多信息，请访问designWaRe芯片内PVT监控和感测IP。
